CNS 13806-1997
发光二极管磊芯片发光波长与亮度量测法

Method of Measurement for Emission Wavelength and Luminous Intensity of Epitaxial Wafers of Light Emitting Diodes


CNS 13806-1997 发布历史

本标准适用于发光二极管磊芯片之发光波长与亮度量测。

CNS 13806-1997由台湾地方标准 CN-CNS 发布于 1997-02-03,并于 1997-02-03 实施。

CNS 13806-1997在国际标准分类中归属于: 17.180.01 光学和光学测量综合。

CNS 13806-1997的历代版本如下:

  • 1997年02月03日 CNS 13806-1997 发光二极管磊芯片发光波长与亮度量测法

CNS 13806-1997



标准号
CNS 13806-1997
发布日期
1997年02月03日
实施日期
1997年02月03日
废止日期
国际标准分类号
17.180.01
发布单位
CN-CNS
适用范围
本标准适用于发光二极管磊芯片之发光波长与亮度量测。




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