CNS 13623-1995
单芯片之电阻率、霍尔系数及霍尔移动率之测定法（范德普法）

Test Methods for Measuring Resistivity,Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors(Van Der Pauw Method)

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标准号

CNS 13623-1995

发布日期

1995年12月21日

实施日期

1995年12月21日

废止日期

无

国际标准分类号

19.080

发布单位

CN-CNS

适用范围

本标准适用于单芯片之电阻率，霍尔系数及霍尔移动率之测量及计算。