SAE J1752-2-2016
集成电路的辐射发射测量 表面扫描法（环路探针法）10 MHz 至 3 GHz
Measurement of Radiated Emissions from Integrated Circuits-Surface Scan Method (Loop Probe Method) 10 MHz to 3 GHz
- 标准号
- SAE J1752-2-2016
- 发布
- 2016年
- 发布单位
- SAE - SAE International
- 当前最新
- SAE J1752-2-2016
- 适用范围
- 本 SAE 推荐实践定义了一种评估集成电路 (IC) 表面电磁场的近场电场或磁场分量的方法。该技术能够提供 IC 内部 RF 源的详细模式。图案的分辨率由所用探头的特性和机械探头定位器的精度决定。该方法可通过现有的探头技术在 10 MHz 至 3 GHz 频率范围内使用。探针根据编程模式在平行或垂直于 IC 表面的平面上进行机械扫描，数据经过计算机处理，以提供扫描频率下场强的颜色增强表示。此过程适用于安装在扫描探针可触及的任何电路板上的 IC 的测量。为了进行比较，应使用标准化测试板。该诊断程序旨在用于 IC 架构分析，包括功能平面图和配电。
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