X射线光谱分析中入射效应校正的标准指南 是非强制性国家标准,您可以免费下载预览页
Fast PF算法 FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在无标样或者少标样的情况下实现样品中元素的定性定量分析,以及对镀层和镀层膜厚的分析。 X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法充分考虑基体效应、探测器元素相应、光管入射线强度等荧光射线特性,可以极大降低XRF系统误差,达到精确定量的目的。...
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