JB/T 9495.2-1999
光学晶体折射率 测量方法
Measuring method for refractive index of optical crystals
JB/T 9495.2-1999 发布历史
本标准适用于利用V棱镜方法测量光学晶体的折射率。测量谱线为d，D，C，F，r，e，g，h八种谱线，测量精度： △n=±3×10^(-5)。
JB/T 9495.2-1999由行业标准-机械 CN-JB 发布于 1999-08-06，并于 2000-01-01 实施。
JB/T 9495.2-1999 在中国标准分类中归属于: N05 仪器、仪表用材料和元件。
JB/T 9495.2-1999的历代版本如下：
- 1999年08月06日 JB/T 9495.2-1999 光学晶体折射率 测量方法
- 标准号
- JB/T 9495.2-1999
- 发布日期
- 1999年08月06日
- 实施日期
- 2000年01月01日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- N05
- 发布单位
- CN-JB
- 适用范围
- 本标准适用于利用V棱镜方法测量光学晶体的折射率。测量谱线为d，D，C，F，r，e，g，h八种谱线，测量精度： △n=±3×10^(-5)。