JB/T 6842-1993
扫描电子显微镜试验方法
Test method of scanning electron microscope
JBT6842-1993, JB6842-1993
JB/T 6842-1993 发布历史
JB/T 6842-1993由行业标准-机械 CN-JB 发布于 1993-07-09，并于 1994-01-01 实施。
JB/T 6842-1993 在中国标准分类中归属于: N33 电子光学与其他物理光学仪器，在国际标准分类中归属于: 37.020 光学设备。
JB/T 6842-1993 扫描电子显微镜试验方法的最新版本是哪一版？
最新版本是 JB/T 6842-1993 。
JB/T 6842-1993的历代版本如下：
- 1993年 JB/T 6842-1993 扫描电子显微镜试验方法
本标准规定了扫描电子显微镜的试验方法。 本标准适用于扫描电镜主机性能的试验。
