JB/T 7503-1994
金属覆盖层横截面厚度.扫描电镜测量方法

Thickness of cross section of metal coatings Scanning electron microscope measuring method

JB/T 7503-1994 中，可能用到以下仪器

 

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JB/T 7503-1994

标准号
JB/T 7503-1994
发布日期
1994年10月25日
实施日期
1995年10月01日
废止日期
无
中国标准分类号
A29
国际标准分类号
25.220.40
发布单位
CN-JB
适用范围
本标准规定了金属覆盖层横截面厚度扫描电镜测量方法的技术要求。 本标准适用于测量横截面中微米级到毫米级的金属覆盖层厚度。

JB/T 7503-1994 中可能用到的仪器设备

分子荧光光谱/荧光分光光度计 气质联用仪 近红外光谱仪 光纤光谱仪 激光共聚焦显微镜 电镜制样设备 拉曼光谱仪 扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM 光学仪器组件 扫描电镜SEM 透射电镜TEM 感官智能分析系统 光学成像-CCD相机 X射线能谱仪(EDS) 其他试验机 差示扫描量热仪(DSC/DTA) 动物代谢等功能检测设备 细胞成像/高内涵成像 条码扫描仪 氨基酸分析仪 天平/电子天平/分析天平 声学计量仪器

谁引用了JB/T 7503-1994 更多引用

SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法


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