JB/T 5482-2004
X射线晶体定向仪 技术条件已作废

JB/T 5482-2004 发布历史

本标准规定了用于单晶定向和测量用的X射线晶体定向仪的要求，试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于各种单晶、双晶衍射型定向仪。

JB/T 5482-2004由行业标准-机械 CN-JB 发布于 2004-06-17，并于 2004-11-01 实施，于 2012-04-01 废止。

JB/T 5482-2004 在中国标准分类中归属于: N33 电子光学与其他物理光学仪器，在国际标准分类中归属于: 17.180.99 有关光学和光学测量的其他标准。

JB/T 5482-2004的历代版本如下：

• 2004年06月17日 JB/T 5482-2004 X射线晶体定向仪 技术条件
• 2011年12月20日 JB/T 5482-2011 X射线晶体定向仪

JB/T 5482-2004 X射线晶体定向仪 技术条件 于 2011-12-20 变更为 JB/T 5482-2011 X射线晶体定向仪。

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标准号

JB/T 5482-2004

发布日期

2004年06月17日

实施日期

2004年11月01日

废止日期

2012-04-01

中国标准分类号

N33

国际标准分类号

17.180.99

发布单位

CN-JB

代替标准

JB/T 5482-2011

适用范围

本标准规定了用于单晶定向和测量用的X射线晶体定向仪的要求，试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于各种单晶、双晶衍射型定向仪。