其中,对粉末内部气孔的表征一般借助扫描电子显微镜 (SEM) 和光学显微镜,通过传统的阿基米德法或金属学分析。这些分析需要对粉末进行复杂的预处理,例如研磨和抛光。X 射线计算机断层扫描技术(CT)不需要进行预处理,直接无损测试,因此在该研究中将SEM与 CT结合用于观测粉末的微观结构。X射线CT可以重建粉末的整个3D形态,分辨率可达1um。这项技术已经广泛用于在粉末和3D打印部件中量化其气孔特征。...
成象系统和电子束系统均内置在真空柱中。真空柱底端即为右图所示的密封室,用于放置样品。之所以要用真空,主要基于以下两点原因:电子束系统中的灯丝在普通大气中会迅速氧化而失效,所以除了在使用SEM时需要用真空以外,平时还需要以纯氮气或惰性气体充满整个真空柱。为了增大电子的平均自由程,从而使得用于成象的电子更多。...
EMPA对电子光学系统工作条件的稳定性要求超过SEM很多很多,控制系统增加了一些负反馈机制,确保分析条件和标样分析保持很小的误差。同等功能的EPMA比SEM系统造价高出许多。电子探针(EPMA)具有显微形貌观察和成分分析的功能,与SEM+EDS相比,电子探针更侧重成分分析。电子探针因出色的微区元素分析能力,被广泛应用于材料质量解析、失效分析及热处理工艺等研究。...
扫描电子显微镜(SEM)应用涉及的行业领域十分广泛,如材料、电子、航空、汽车地学、冶金、机械加工、半导体制造、陶瓷品等。检测作为专业的第三方检测实验室,在SEM相关检测项目方面拥有丰富的实践经验,针对不同的产品和客户需求,采用不同的材料分析方法和测试标准,帮助企业监控产品质量,维护产品品质!...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号