SJ 2154-1982
薄膜集成电路用微晶玻璃基片

Miorocrystal glass substrates for use in thick film integrated circuits

SJ 2154-1982 中，可能用到以下仪器

 

RA4100 HPIMS-MS 离子迁移谱系统

RA4100 HPIMS-MS 离子迁移谱系统

北京绿绵科技有限公司

 

BenchPro® 4100 蛋白质印迹处理系统-Life Tech(Invitrogen)

BenchPro® 4100 蛋白质印迹处理系统-Life Tech(Invitrogen)

赛默飞世尔科技生命科学产品

 

SJ 2154-1982

标准号
SJ 2154-1982
发布日期
1982年08月27日
实施日期
1983年01月01日
废止日期
无
中国标准分类号
L57
国际标准分类号
31.200
发布单位
CN-SJ

SJ 2154-1982 中可能用到的仪器设备

吹扫捕集装置 激光共聚焦显微镜 离子迁移谱 介电常数测定仪 导热仪、热导仪 电热板 烟气排放连续监测系统CEMS/烟气分析仪


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