SJ 2355.4-1983
半导体发光器件测试方法.结电容的测试方法已作废

Methods of measurement for junction capacitance of light-emitting devices

SJ 2355.4-1983 发布历史

SJ 2355.4-1983由行业标准-电子 CN-SJ 发布于 1983-08-15，并于 1984-07-01 实施，于 2010-01-01 废止。

SJ 2355.4-1983 在中国标准分类中归属于: L53 半导体发光器件，在国际标准分类中归属于: 31.260 光电子学、激光设备。

SJ 2355.4-1983的历代版本如下：

• 1983年08月15日 SJ 2355.4-1983 半导体发光器件测试方法.结电容的测试方法

SJ 2355.4-1983 半导体发光器件测试方法.结电容的测试方法 于 2009-11-17 变更为 SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法。

标准号

SJ 2355.4-1983

发布日期

1983年08月15日

实施日期

1984年07月01日

废止日期

2010-01-01

中国标准分类号

L53

国际标准分类号

31.260

发布单位

CN-SJ

代替标准

SJ/T 11394-2009