JB/T 9687.1-1999 电力半导体器件用钼圆片仪器设备

JB/T 9687.1-1999 中，可能用到以下仪器设备

徕卡Leica DCM 3D白光共焦干涉显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

自动/手动硬度测试系统

美国力可公司

AMH55自动硬度测试系统

美国力可公司

LM系列显微测试系统

美国力可公司

LR系列洛式硬度计

美国力可公司

LV系列宏观（大载荷）维氏硬度测量系统

美国力可公司

DUH-211/211S超显微动态硬度计

岛津（上海）实验器材有限公司

HMV-G20系列显微维氏硬度计

岛津（上海）实验器材有限公司

HMV-G-FA全自动显微维氏硬度计

岛津（上海）实验器材有限公司

小麦硬度计硬度指数仪

山东盛泰仪器有限公司

Leica徕卡DMi8研究级倒置显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

徕卡DM8000 M 8英寸半导体检查专用自动显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

Leica DM12000 M 12英寸半导体检查专用全自动显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

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蔡司（ZEISS）全自动清洁度分析仪

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蔡司（ZEISS）全自动油液污染度（油品）分析仪（Particle Analyzer）

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

蔡司克尔磁光显微镜

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

蔡司（ZEISS）全自动清洁度分析仪

蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司

蔡司（ZEISS）全自动油液污染度（油品）分析仪（Particle Analyzer）

蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司

蔡司克尔磁光显微镜

蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司

奥林巴斯半导体/FPD检测显微镜 MX63/MX63L

奥林巴斯（中国）有限公司

岛津HMV-G21系列维氏显微硬度计

岛津企业管理（中国）有限公司/岛津（香港）有限公司

Anton Paar TTX-NHT3动态显微硬度计、纳米压痕测试仪

安东帕（上海）商贸有限公司

徕卡VHMT显微维氏硬度计

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

LCB3100布氏硬度计

美国力可公司

LMV50v系列自动微/宏观硬度计

美国力可公司

盛泰仪器ST120B自动饲料硬度计

山东盛泰仪器有限公司

盛泰仪器ST120F全自动方糖硬度计

山东盛泰仪器有限公司

盛泰仪器ST120A数显饲料硬度计

山东盛泰仪器有限公司

AHT自动硬度测试仪(Automated Hardness Tester)

美国TA仪器公司

威尔逊Wilson Hardness UH4000 多功能系列硬度计

广州领拓仪器科技有限公司

Equotip 550 UCI 便携硬度计

广州领拓仪器科技有限公司

Equotip 550 Leeb 便携硬度计

广州领拓仪器科技有限公司

Equotip Live Leeb D 便携硬度计

广州领拓仪器科技有限公司

威尔逊Wilson VH1150 维氏硬度计

广州领拓仪器科技有限公司

标准号: JB/T 9687.1-1999
发布日期: 1999年08月06日
实施日期: 2000年01月01日
废止日期: 无
中国标准分类号: K46
国际标准分类号: 29.200
发布单位: CN-JB
被代替标准: ZB K46012-1989

适用范围: 　　本标准规定了电力半导体器件用钼圆片的外形尺寸、技术要求、试验方法、检验规则及包装、运输、贮存和标志。　　本标准适用于钼板冲制及钼坯锻造法生产的电力半导体器件用钼片。

JB/T 9687.1-1999
电力半导体器件用钼圆片

Molybdenum disk for power semiconductor devices

JB/T 9687.1-1999 中，可能用到以下仪器设备

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盛泰仪器ST120A数显饲料硬度计

AHT自动硬度测试仪(Automated Hardness Tester)

威尔逊Wilson Hardness UH4000 多功能系列硬度计

Equotip 550 UCI 便携硬度计

Equotip 550 Leeb 便携硬度计

Equotip Live Leeb D 便携硬度计

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JB/T 9687.1-1999电力半导体器件用钼圆片

Molybdenum disk for power semiconductor devices

JB/T 9687.1-1999 中，可能用到以下仪器设备

JB/T 9687.1-1999 中可能用到的仪器设备

JB/T 9687.1-1999
电力半导体器件用钼圆片