ASTM E2445/E2445M-20 计算机放射摄影系统的性能评估和长期稳定性的标准实践发布历史

ASTM E2445/E2445M-20由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2020-06-15。

ASTM E2445/E2445M-20在国际标准分类中归属于: 19.100 无损检测。

* 在 ASTM E2445/E2445M-20 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。

1.1 本实践描述了用于工业射线照相的计算机射线照相（CR）系统的评估。其目的是确保图像质量的评估（只要受CR系统影响）满足该标准的用户及其客户的需求，并实现CR系统的过程控制和长期稳定性。

1.2 本实践规定了要测量的 CR 系统的基本参数，以确定基线性能，并跟踪系统的长期稳定性。这些测试适用于高达 320 kV 的应用。当大于 320 kV 或使用伽马源时，这些测试仍可用于表征系统，但可能需要根据用户和认可工程组织 (CEO) 之间的协议进行修改。

1.3 本规程规定的 CR 系统性能测试应在制造商验收系统后按本规程规定的时间间隔完成，以监测系统的长期稳定性。这些测试的目的是监视系统性能下降并确定当系统下降达到一定程度时需要采取措施。

1.4 每次试验均强制使用本标准规定的量具。如果这些测试或量规不够，用户应与 CEO 协调开发额外的或修改的测试、测试对象、量规或图像质量指标来评估 CR 系统。这些替代测试的验收水平应由用户和 CEO 之间达成协议来确定。

1.5 单位——以 SI 单位或英寸磅单位表示的值应单独视为标准。每个系统中规定的值不一定完全相同；因此，为了确保符合标准，每个系统应独立使用，并且两个系统的值不得组合。

1.6 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任建立适当的安全、健康和环境实践，并在使用前确定监管限制的适用性。

1.7 本国际标准是根据世界贸易组织贸易技术壁垒（TBT）委员会发布的《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确立的国际公认的标准化原则制定的。

标准号: ASTM E2445/E2445M-20
发布: 2020年
发布单位: 美国材料与试验协会
当前最新: ASTM E2445/E2445M-20

引用标准: ASTM E1316 ASTM E1647 ASTM E2002 ASTM E2007 ASTM E2033 ASTM E2446 ASTM E746

ASTM E2445/E2445M-20
计算机放射摄影系统的性能评估和长期稳定性的标准实践