由于X荧光的无损分析方法,同时仪器高度的自动化控制技术,保证测试中可以进行连续多点测量,不但提高测试效率,同时可以分析测试样的厚度分布情况。 6、对分析的多镀层每层之间的材料,要求有明显的区别,即,每层样品元素有明显的差别。 由于X荧光是通过特征X射线,对被测样品进行厚度分析的,因此每层镀层的材料应有明显的区别。 ...
X荧光测厚仪又称X射线荧光测厚仪,主要用于精密测量金属电镀层的厚度。 X荧光镀层测厚仪工作原理:通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光,初级X光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线,也就是我们通常所说的X荧光,X荧光被探测器探测到后经放大,数模转换输入到计算机。计算机计算出我们需要的结果。...
X射线金属镀层测厚仪,X射线经过镀层界面,根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难(信号分不开)。测试镀层厚度要考虑镀层材质和镀层密度等因素,如果各因素都不确定是无法分析的。...
1、原理:X射线照射样品,经过镀层界面,射线返回的信号发生突变,根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难(信号分不开)。2、XRF镀层测厚仪:俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能:精密测量金属电镀层的厚度。应用范围:测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从22(Ti)到92(U)。...
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