第2部分:铈中镧、镨、钕、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥和钇量的测定推修稀土金属及其化合物化学分析方法 稀土总量的测定推修离子型稀土矿混合稀土氧化物化学分析方法 二氧化硅量的测定推制稀土长余辉荧光粉试验方法 第1部分 发射主峰和色品坐标的测定推修硅材料中氧含量的测试 惰性气体熔融红外法推制硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 推制氮化镓材料中镁含量的测定 二次离子质谱法推制聚氨酯发泡材料中有机磷酸酯阻燃剂的测定...
03可检测的物质不含锡的纯铜中微量锑、茶叶中汞、纯铝金属材料中铋、纯镍金属材料中铋、粗铅中铋、催化剂中钯,铂,铱、大米粉中锌、大苏打中砷、稻米中锌、低合金钢中锰,钼、地下水中铜,镉、地质样品中钴、电镀废水中铬(VI)和总铬量,镉、电解铜中铋、定影液中银、独居石中铈组稀土、废氢化汞触媒浸取液中汞、废水中铈组稀土,金,镉,铜、钢铁中铈组稀土总量,钒,钴,铝,钼,铌,钛,锡,钇,稀土总量、高温合金中钽、工业废水中钒...
向上滑动阅览1、玻璃原材料主次成分及杂质元素含量检测X射线光谱法测定硅石中的杂质元素X射线荧光光谱法测定石灰石中主次成分的含量X射线荧光光谱法测定镁质耐火材料X射线荧光光谱法分析铝质耐火材料X射线荧光光谱法分析硅质耐火材料EDX-8000真空条件分析高铝耐火材料中各元素含量ICP-AES法测定石英砂岩中的常微量元素含量ICPE-9820测定玻璃、釉料及其原料中氧化物的含量ICP-AES法测定灰岩矿石中的氧化钙及其它常微量元素含量偏硼酸锂碱熔...
光掩膜版 OLED用发光层、传输层及油墨材料 OLED基板用聚酰亚胺材料(YPI) MiniLED反射膜 新能源汽车用电容膜 荧光粉膜 TFT-LCD用偏光片PVA的保护膜 光学级膜材料 显示用聚酰亚胺及取向剂 芯片用5N5超纯铝及铝合金铸锭 化合物半导体材料用高纯砷 高纯钨及钨合金靶材 氮化镓单晶衬底及外延片 碳化硅单晶衬底及同质外延片 半导体装备用精密陶瓷部件 ...
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