ASTM E2444-05
反射薄膜测量术语

Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films


哪些标准引用了ASTM E2444-05

 

ASTM E2244-11(2018) 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法ASTM E2246-11(2018) 使用光学干涉仪的薄的反射膜的应变梯度测量的标准测试方法ASTM E2245-11(2018) 使用光学干涉仪的薄的反射膜的残余应变测量的标准测试方法ASTM E2244-11e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法ASTM E2246-11e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法ASTM E2245-11 利用光学干涉仪测量反射膜残余应变的标准试验方法ASTM E2245-11e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜残余应变的标准试验方法
标准号
ASTM E2444-05
发布
2005年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM E2444-05e1
当前最新
ASTM E2444-11(2018)
 
 
1.1 本标准包含与在反射薄膜上进行的测量有关的术语和定义，例如微机电系统 (MEMS) 材料中的薄膜。特别是，这些术语与第 5 节中的标准相关，这些标准由疲劳和断裂委员会 E08 制定。与疲劳和断裂试验相关的术语E 1823适用于本标准。 1.2 术语按字母顺序列出。

谁引用了ASTM E2444-05 更多引用

ASTM E2244-11(2018) 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法 ASTM E2246-11(2018) 使用光学干涉仪的薄的反射膜的应变梯度测量的标准测试方法 ASTM E2245-11(2018) 使用光学干涉仪的薄的反射膜的残余应变测量的标准测试方法 ASTM E2244-11e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法 ASTM E2246-11e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法 ASTM E2245-11 利用光学干涉仪测量反射膜残余应变的标准试验方法 ASTM E2245-11e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜残余应变的标准试验方法


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