SJ/T 11222-2000
集成电路卡通用规范.第3部分：测试方法

General specification for Integrated circuit cards.Part 3:Test methods

SJ/T 11222-2000 中，可能用到以下仪器设备

 

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Millrock箱式冻干机REVO 系列

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上海舜宇恒平科学仪器有限公司

 

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SJ/T 11222-2000

标准号
SJ/T 11222-2000
发布日期
2000年05月30日
实施日期
2000年10月01日
废止日期
2011-08-15
中国标准分类号
L64
国际标准分类号
31.200
发布单位
CN-SJ
适用范围
本规范规定了与ISO/IEC 7810给出的定义相适应的识别卡特性用的测试方法。每一测试方法交叉引用一个或多个基础标准，该基本标准可以是ISO/IEC7810或一个或多个定义了用于识别卡应用的信息存储技术的补充标准。 注：本规范中描述的若干测试方法预期可单独进行。规定的卡不要求通过所有测试。 本规范定义了为一种或多种卡技术通用的测试方法。

SJ/T 11222-2000 中可能用到的仪器设备

光纤光谱仪 电镜附件及外设 折光仪(折射仪) 色谱检测器 硬度计 纳米压痕仪、划痕仪 流变仪 化学合成仪 水浴/油浴/恒温槽 冻干机/冷冻干燥机 紫外分析仪/紫外检测仪/紫外透射仪 辐射仪/射线检测仪 硫化物测定仪 织物类测试仪器 摩擦系数测试仪、剥离系数试验仪


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