SJ/Z 2655-1986
锗单晶缺陷图集

Collection of single crystal Germaninm defects


SJ/Z 2655-1986 中,可能用到以下仪器

 

高精度光学浮区法单晶炉

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德国徕卡 倒置显微镜 DMIL LED

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德国徕卡 倒置荧光显微镜 Leica DMi8-M

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

德国徕卡 倒置荧光显微镜 Leica DMi8-电动

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

蠕动泵灌装系统FB16-1

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保定兰格恒流泵有限公司

 

SJ/Z 2655-1986



标准号
SJ/Z 2655-1986
发布日期
1986年01月21日
实施日期
1986年10月01日
废止日期
2010-02-25
中国标准分类号
L90
国际标准分类号
31-030
发布单位
CN-SJ

SJ/Z 2655-1986 中可能用到的仪器设备





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