SJ/T 31065-1994
24型晶片数控抛光机完好要求和检查评定方法

Requirements of readiness and methods of inspection and assessment for Type 24 NC wafer buffing machines

SJT31065-1994, SJ31065-1994

2010-02

SJ/T 31065-1994 中,可能用到以下仪器

 

Py-Screener气质 RoHS筛查系统 可检测电子元器件

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岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

气质GCMS-QP2020岛津 可检测电子元器件

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CSS200磨抛机

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美国力可公司

 

SS1000磨抛机

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UNIPOL-1210M型全自动金相磨抛系统

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沈阳科晶自动化设备有限公司

 

手动单盘磨抛机

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UNIPOL-300型 小型精密磨抛机

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沈阳科晶自动化设备有限公司

 

薄片抛光机

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PM-01XL瑞绅葆磨抛机 应用于烘培糕点/膨化

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瑞绅葆分析技术(上海)有限公司

 

瑞绅葆PM-01XL磨抛机 可检测食品

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瑞绅葆分析技术(上海)有限公司

 

薄片抛光机

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气压式自动磨抛机-R系列 FS

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北京创诚致佳科技有限公司

 

电子组件制备器

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PM-01XL磨抛机瑞绅葆 应用于糖果/可可咖啡

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德国徕卡 修块机 EM RAPID

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

德国徕卡 修块机 EM TRIM2

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

Leica EM TIC 3X抛光机徕卡 可检测半导体芯片

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

德国徕卡 修块机 EM TRIM2

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德国徕卡 药片修块机 EM RAPID

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

Leica EM RAPID德国 修块机 EM RAPID抛光机 样本

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

SJ/T 31065-1994

标准号
SJ/T 31065-1994
别名
SJT31065-1994
SJ31065-1994
发布单位
行业标准-电子
当前最新
SJ/T 31065-1994
 
 
本标准规定了晶片数控研磨、抛光机的完好要求和检查、评定方法。 本标准适用于Kayex-Spitfre 360系统(24型)研磨、抛光机,结构类似的其它型号的研磨、抛光机,亦可参照本标准有关条款执行。

SJ/T 31065-1994相似标准


SJ/T 31065-1994 中可能用到的仪器设备





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