SJ/T 10196-1991
中、小规模数字集成电路静态参数测试仪.测试方法

Measuring methods of MSI and SSI digital IC static parameter testers


SJ/T 10196-1991 发布历史

本标准规定了中、小规模数字集成电路静态参数测试仪有关性能特性的测试方法。 本标准适用于测试SJ/T 10195《中、小规模数字集体电路静态参数测试仪通用技术条件》中所规定的性能特性及误差。

SJ/T 10196-1991由行业标准-电子 CN-SJ 发布于 1991-05-28,并于 1991-12-01 实施,于 2010-02-25 废止。

SJ/T 10196-1991 在中国标准分类中归属于: L85 电子测量与仪器综合,在国际标准分类中归属于: 17.220 电学、磁学、电和磁的测量。

SJ/T 10196-1991的历代版本如下:

  • 1991年05月28日 SJ/T 10196-1991 中、小规模数字集成电路静态参数测试仪.测试方法

SJ/T 10196-1991



标准号
SJ/T 10196-1991
发布日期
1991年05月28日
实施日期
1991年12月01日
废止日期
2010-02-25
中国标准分类号
L85
国际标准分类号
17.220
发布单位
CN-SJ
适用范围
本标准规定了中、小规模数字集成电路静态参数测试仪有关性能特性的测试方法。 本标准适用于测试SJ/T 10195《中、小规模数字集体电路静态参数测试仪通用技术条件》中所规定的性能特性及误差。




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