SJ 2354.11-1983
PIN、雪崩光电二极管列阵盲区宽度的测试方法
Method of measurement for width of blind zone of PIN and avalanche photodiode matrix
- 标准号
- SJ 2354.11-1983
- 发布日期
- 1983年08月15日
- 实施日期
- 1984年07月01日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- L50
- 国际标准分类号
- 31.260
- 发布单位
- CN-SJ
- 代替标准
- SJ/T 2354-2015