SJ/Z 9010.9-1987
电子管电性能的测试 第9部分:阴极中间层阻抗的测试

Measurements of electrical properties of electronic tubes and valves--Part 9: Methods of measuring the cathode-interface impedance


SJ/Z 9010.9-1987 中,可能用到以下仪器设备

 

日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

FEI Quanta x50 FEG场发射环境扫描电镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子6700F高分辨扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

PGSTAT 128N电化学工作站

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瑞士万通中国有限公司--实验室分析仪器

 

蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子JSM-7200F扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

大气压扫描电镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

聚焦离子束系统

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

Quanta SEM

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蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司

 

VSP多通道恒电位仪

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DT/仪思奇(北京)科技发展有限公司

 

SP-300型研究级单通道恒电位仪

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蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

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蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

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蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

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蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司

 

聚焦离子束系统

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ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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蔡司 EVO MA 25/LS 25钨灯丝系列扫描电镜

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蔡司SUPRA™ 55场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司SUPRA™40超高分辨率场发射扫描电子显微镜

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Prisma E SEM扫描电子显微镜

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FEI Inspect S50 扫描电子显微镜

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FEI Quanta 3D 200i SEM/FIB

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蔡司(ZEISS) EVO 18钨灯丝系列扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

FEI Inspect F50 场发射扫描电子显微镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

蔡司 EVO MA 15/LS 15钨灯丝系列扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

FEI Magellan 400L XHR 场发射扫描电镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

日本电子JIB-4500聚焦离子束扫描电镜

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Apollo 300 扫描电镜

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TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

万通autolab PGSTAT302N电化学工作站

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蔡司EVO MA 10/LS 10钨灯丝系列扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日立高新SU6600配有VP功能的新型热场扫描电镜

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天美仪拓实验室设备(上海)有限公司

 

TM3030Plus日立高新台式显微镜

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TM3030日立高新台式显微镜

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天美仪拓实验室设备(上海)有限公司

 

蔡司MERLIN Compact超高分辨率场发射扫描电镜

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JSM-7610F 热场发射扫描电子显微镜

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日本电子JSM-IT300HR 扫描电子显微镜

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SJ/Z 9010.9-1987



标准号
SJ/Z 9010.9-1987
发布日期
实施日期
废止日期
2010-02-25
中国标准分类号
L35
国际标准分类号
31.100
发布单位
CN-SJ
适用范围
1.1 本文件的主要目的是规定测试中间层阻抗的方法,而不是详细叙述对被测电子管的预处理,稳定处理和工作严格等程序。但是,人们知道测试中间层阻抗的电子管工作条件对所得的结果会有重大影响。 1.2 叙述评价中间层阻抗测试设备性能的方法,也是本推荐文件的一个目的。测试设备的性能与下列因素有关: 1.2.1 精度为被测管跨导的函数。 1.2.2 精度为中间层电阻的函数。 1.2.3 精度为等效中间层网络的时间常数的函数。 1.3 本推荐文件中所述的测试方法和程序旨在提供电子管阴极中间层阻抗特性的下列内容: 1.3.1 阴极中间层阻抗的存在。 1.3.2 阴极中间层阻抗的等效电阻。 1.3.3 阴极中间层阻抗的等效电容。

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