GB/T 42271-2022
半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法
Test method for resistivity of semi-insulating monocrystalline silicon carbide by contactless measurement
GBT42271-2022, GB42271-2022
GB/T 42271-2022 发布历史
GB/T 42271-2022由国家质检总局 CN-GB 发布于 2022-12-30，并于 2023-04-01 实施。
GB/T 42271-2022 在中国标准分类中归属于: H21 金属物理性能试验方法，在国际标准分类中归属于: 77.040 金属材料试验。
GB/T 42271-2022 发布之时，引用了标准
- GB/T 14264 半导体材料术语
- GB/T 30656 碳化硅单晶抛光片*， 2023-03-17 更新
* 在 GB/T 42271-2022 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。
GB/T 42271-2022的历代版本如下：
- 2022年 GB/T 42271-2022 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法
本文件描述了半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法。 本文件适用于测量电阻率范围为1×105 Ω·cm~1×1012 Ω·cm 的半绝缘碳化硅单晶片。
- 标准号
- GB/T 42271-2022
- 别名
- GBT42271-2022
GB42271-2022 - 发布
- 2022年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 42271-2022
- 引用标准
- GB/T 14264 GB/T 30656
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