T/CSTM 00162-2020
透射电子显微镜校准方法

Calibration methods for transmission electron microscope


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T/CSTM 00162-2020
标准号
T/CSTM 00162-2020
发布
2020年
发布单位
中国团体标准
当前最新
T/CSTM 00162-2020
 
 
本部分规定了透射电镜校准方法的术语和定义、概述、计量特性、校准条件、校准项目和校准方法、测量结果不确定度评定、校准结果表达和复校时间间隔。 本标准适用于透射电镜放大倍率、样品污染率和样品漂移率的校准。

T/CSTM 00162-2020相似标准

DB31/T 315-2004 透射电子显微镜放大倍率校准方法 JB/T 9352-1999 透射电子显微镜 试验方法 JY/T 011-1996 透射电子显微镜方法通则 JY/T 0581-2020 透射电子显微镜分析方法通则 GB/T 18907-2002 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法

T/CSTM 00162-2020 中可能用到的仪器设备

荧光显微镜 光学成像-CCD相机 激光共聚焦显微镜 X射线(衍射)仪/能谱仪部件及外设 透射电镜TEM 超分辨率显微镜 显微图像分析系统 电镜附件及外设 材料/金相显微镜 工业显微镜/工具显微镜 数码显微镜 光学仪器组件 显微操作 纳米压痕仪、划痕仪 离子减薄仪 仪器工作站及软件 等离子体表面处理仪 活体成像 细胞成像/活细胞成像


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