1.显微镜法 1)用扫描电子显微镜(SEM)扫描隧道显微镜(STM)透射电子显微镜(TEM)来表征生长域和表面形态。 2)用原子力显微镜(AFM)来表征表面形态、厚度、层的均匀性、畴生长。 ...
1.显微镜法1)用扫描电子显微镜(SEM)扫描隧道显微镜(STM)透射电子显微镜(TEM)来表征生长域和表面形态。2)用原子力显微镜(AFM)来表征表面形态、厚度、层的均匀性、畴生长。...
这种方法的测量精度与传统的纳米压痕法、原子力显微镜(AFM)法等高度精确测试技术相当,但更加简便、快捷,成本也更低。MoS2模量测试示意图。图片来源:Adv. Mater.研究团队采用胶带机械剥离TMDC晶体制备2D膜材料,然后将所制备2D膜材料转移至单轴预拉伸(≈ 20%)的柔性PDMS基底上构筑软硬复合双层膜体系(MoS2/PDMS),通过释放预拉伸在2D材料表面形成规整皱纹形貌。...
单层MoSi2N4的杨氏模量和断裂强度与单层石墨烯、MoS2和MXenes的比较。 ...
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