这项工作不仅为进一步研究二维Bi的物理特性提供了制备参考和实验依据,同时也推动了相关新型信息电子和光电子器件的进一步研究。【图文导读】图1:利用脉冲激光沉积合成大面积层状Bi薄膜及晶体结构表征。a) 左:厘米级Bi薄膜的样品照片;右:Bi的晶体结构示意图。b) 所得薄膜样品的X射线衍射谱。c) 左:所得Bi膜的大角度环形暗场图像;右:样品的能量色散X射线映射图。d) 所得Bi膜的X射线光电子能谱。...
c.高聚物材料的物性除了与其结晶度、取向度有密切关系外,还常常与其微晶大小有关,而聚合物材料加工成型及热处理过程,常常影响这个值的大小,故微晶尺寸的测量也是非常重要的。微晶大小一般采用谢乐(Schorrer)方程,如下:Lhkl=Kλ/βcosθ式中Lhkl系垂直于(hkl)晶面的微晶尺寸;λ为入射X射线的波长;θ为布拉格角;β为纯衍射线增宽(用弧度表示)。...
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