T/CAB 0180-2022
GAGG晶体及晶片阵列性能测量方法

Measurement method for characteristic parameters of GAGG crystal and crystal array

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标准号

T/CAB 0180-2022

发布

2022年

发布单位

中国团体标准

当前最新

T/CAB 0180-2022

 

 

适用范围

本文件规定了掺铈钆铝镓石榴石（Cerium-doped Gadolinium Aluminum Gallium Garnet，Gd3Al2Ga3O12，英文缩写GAGG）晶体及晶片阵列外观及几何特性（外观、尺寸、翘曲度、总厚度偏差、表面粗糙度、垂直度、平行度等）的检测方法，以及辐射特性（光输出、相对能量转换效率、闪烁光衰减长度、发射光谱、闪烁余辉时间、晶体阵列的心角比等）的测量方法。

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