ASTM E2444-11(2018)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2018-05-01。
ASTM E2444-11(2018)在国际标准分类中归属于: 01.040.31 电子学 (词汇)。
* 在 ASTM E2444-11(2018) 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。
1.1 本标准包含与在反射薄膜上进行的测量有关的术语和定义,例如微机电系统 (MEMS) 材料中的薄膜。特别是,这些术语与第 2 节中的标准相关,该标准由疲劳和断裂委员会 E08 制定。疲劳和断裂试验相关术语E1823适用于本标准。
1.2 术语按字母顺序列出。
1.3 本国际标准是根据世界贸易组织贸易技术壁垒(TBT)委员会发布的《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确立的国际公认的标准化原则制定的。
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