衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法, 您可以免费下载预览页
这个结果可以解释使用这种薄膜制造的晶体管测量到的异常低的串联电阻值。相比之下,其他薄膜中的相看起来很好地混合在一起,从而产生了具有更高的串联电阻。通过Cypher AFM获取,扫描范围为3微米13。2.2 纳米尺度光电响应成像理解有机半导体的电荷注入、传输、捕获和复合仍然是提高效率并减少性能退化的研究关键点。...
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