T/CIE 126-2021由中国团体标准 CN-TUANTI 发布于 2021-12-23,并于 2022-03-03 实施。
T/CIE 126-2021在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。
T/CIE 126-2021 磁随机存储芯片测试方法的最新版本是哪一版?
最新版本是 T/CIE 126-2021 。
本标准给出了磁随机存储(Magnetic Random-Access Memory; MRAM)芯片测试方法的术语、测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。 本标准适用于磁随机存储芯片测试和磁随机存储芯片关键性能(可靠性和电学参数等)验证。
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