T/CGWSTC 001—2022
陶瓷原料中多种成分的测定 X 射线荧光光谱法（粉末压片）
T/CGWSTC 001—2022 发布历史
本文件规定了测定陶瓷原料中多种成分X射线荧光光谱法的原理、 试剂和材料、仪器设备、试样制备、分析步骤、结果计算、精密度及 实验报告。
T/CGWSTC 001—2022由中国团体标准 CN-TUANTI 发布于 2022-05-10，并于 2022-06-13 实施。
T/CGWSTC 001—2022在国际标准分类中归属于: 81.060.01 陶瓷综合。
