T/CIE 119-2021
半导体器件大气中子单粒子效应试验方法与程序
Atmospheric neutron single event effect test methods and procedures for semiconductor devices
T/CIE 119-2021 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- T/CIE 119-2021
- 发布
- 2021年
- 发布单位
- 中国团体标准
- 当前最新
- T/CIE 119-2021
- 本文件给出半导体器件大气中子单粒子效应试验方法与程序。专门针对使用散裂中子源对半导体器件进行大气中子单粒子效应加速试验，根据半导体器件工艺和散裂中子源测试条件变化，编制新标准，覆盖热中子和高能中子协同测试，提升试验效率，覆盖高速大容量器件测试、MBU测试分析、1MeV~10MeV中子贡献等半导体器件大气中子单粒子效应测试中的关键环节。通过开展散裂中子源加速辐...
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