T/CIE 115-2021由中国团体标准 CN-TUANTI 发布于 2021-11-22,并于 2022-01-25 实施。
T/CIE 115-2021在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。
T/CIE 115-2021 电子元器件失效机理、模式及影响分析(FMMEA)通用方法和程序的最新版本是哪一版?
最新版本是 T/CIE 115-2021 。
本文件是针对元器件级的失效模式及影响分析,是对系统及整机级的FMEA标准的有效补充,可保证元器件制造和应用方了解和掌握影响元器件可靠性的主要失效机理、模式及原因,并预先采取有效的预防措施;支撑元器件的可靠性设计、生产工艺控制以及整机用户的可靠性应用。
2.失效分析的原则——机理推理的基础现场信息;复测(失效模式确认)结果分析;对象的特定工艺和结构的失效机理;特定环境有关的失效机理;失效模式与失效机理的关系;有关知识和经验的长期积累。图3 可靠性工程控制3.失效分析方法PCBA失效分析中所采用的方法,目前业界有些专家归纳了一个很好的分析模型,如图4所示。图4 PCBA失效分析方法...
电子元器件的筛选重点应放在可靠性筛选上,具体的筛选程序可根据元器件的结构特点、失效模式及使用要求灵活制订。 筛选和质量控制是高可靠元器件生产中的重要环节。对于优质产品,通过筛选可使整批产品达到其固有的高可靠性。对于劣质产品,由于其固有的缺陷,就不可能筛选出高可靠产品。因此,在筛选前有必要对产品的质量和可靠性水平进行抽样试验评价,通过试验和失效分析有助于制订合理的筛选程序。...
本文主要针对常规筛选程序的设计思路和方向。本文主要针对常规筛选程序的设计思路和方向进行分享。方案设计第一步:确定元器件潜在易失效模式元器件失效模式主要考虑封装失效和电性能失效,封装失效可以通过对器件施加环境因素使各种潜在缺陷加速为早期故障然后进行排除,使交付产品可靠性指标满足设计指标的要求。...
20世纪60年代以来,我国陆续制定、修订了一系列标准,开发各种试验方法,开拓了旨在研究失效机理的可靠性物理这门新的学科,发展了失效模式、影响及危害性分析和故障树两种有效的分析方法。这些方法的使用,为提高元器件筛选的有效性和准确性提供了强大的理论工具。 失效一般分为现场失效和试验失效。现场失效一般是在装机以后出现的失效,因此,我们在元器件测试筛选过程中只考虑试验失效。...
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