IPC TM-650 2.5.5.5C-1998
X 波段介电常数和损耗角正切（介电常数和耗散因数）的带状线测试
Stripline Test for Permittivity and Loss Tangent (Dielectric Constant and Dissipation Factor) at X-Band
IPC TM-650 2.5.5.5C-1998 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- IPC TM-650 2.5.5.5C-1998
- 发布
- 1998年
- 发布单位
- IPC - Association Connecting Electronics Industries
- 摘要：该方法旨在快速测量 X 波段（8.00 至 12.40 GHz）表观相对带状线介电常数（参见 9.1）和金属包覆基板的损耗角正切。使用谐振元件图案卡@在带状线条件下进行测量，该谐振元件图案卡通过待测材料片与接地平面隔开。有关此方法的更多信息可在 ASTM D3380-75 中找到。定义： 此方法中使用的术语包括： 复数相对介电常数 相对介电常数和耗散因...
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