适用于表面质量评级的规定包括:1、ANSI/OEOSC OP1.002-2009,针对光学和电光仪器 – 光学元素和组件 – 外观缺陷*2、ISO10110-7:2008,光学和光电- 适用于光学元件和系统的制图 - 第7部分:表面缺陷公差*3、ISO14997:2003;光学和光学仪器 - 用于检测光学元件表面缺陷的方法4、MIL-PRF-13830B;管理火控仪器光学组件的制造、组装和检测的一般规格...
缺陷包括研磨和抛光过程留下的表面下损伤、光学元件上留下的抛光磨粒的极小颗粒,或镀膜上留下的一团团金属元素。每个缺陷源都表现出不同的吸收特性,因为任何给定缺陷的性质和大小都将决定光学元件在不造成损伤的情况下能够承受的激光强度。如前所述,脉冲持续时间对导致激光损伤的机制有很大的影响(图 5)。...
利用包括干涉仪、表面光度仪、坐标测量机(CMM)和许多其他光学和机械计量设备在内的一系列设备进行内部测试,以确定表面粗糙度和其他光学特性。联系电话:18861759551邮箱:info@rympo.com更多产品请关注我司网站https://www.rympo.com/...
然而, 传统的手性检测技术需要复杂的光学系统,其体积庞大,很难实现微型化和集成化,同时也大幅度降低了效率和成像质量。光电所研究团队在国际上首次提出了一种基于非对称光子自旋轨道相互作用的新型全介质超表面,其制造工艺简单、手性响应强,且能够通过入射方向控制透过的圆偏振光的旋向并同时实现波前调控。这些特性可大大减小应用于手性成像、手性光谱学、光通信等领域的光学系统的体积、重量、成本和能量损失。...
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