DB35/T 1193-2011
半导体发光二极管芯片

DB35/T 1193-2011 发布历史

本标准规定了半导体发光二极管芯片产品（以下简称芯片）的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则、包装、贮存和运输。 本标准适用于可见光半导体发光二极管芯片。紫外光和红外光半导体发光二极管芯片以及外延片的测试可参考执行

DB35/T 1193-2011由福建省质量技术监督局 发布于 2011-10-28，并于 2012-02-15 实施。

DB35/T 1193-2011 在中国标准分类中归属于: L53 半导体发光器件，在国际标准分类中归属于: 31.260 光电子学、激光设备。

DB35/T 1193-2011的历代版本如下：

• 2011年10月28日 DB35/T 1193-2011 半导体发光二极管芯片

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 DB35/T 1193-2011 前三页，或者稍后再访问。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

DB35/T 1193-2011

发布日期

2011年10月28日

实施日期

2012年02月15日

废止日期

无

中国标准分类号

L53

国际标准分类号

31.260

发布单位

福建省质量技术监督局

适用范围

本标准规定了半导体发光二极管芯片产品（以下简称芯片）的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则、包装、贮存和运输。 本标准适用于可见光半导体发光二极管芯片。紫外光和红外光半导体发光二极管芯片以及外延片的测试可参考执行