KS D ISO 15632-2023
微束分析.与扫描电子显微镜（SEM）或电子探针微量分析仪（EPMA）一起使用的能量色散X射线光谱仪（EDS）的规范和检查所选仪器性能参数
Microbeam analysis — Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers(EDS) for use with a scanning electron microscope(SEM) or a
KS D ISO 15632-2023 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- KS D ISO 15632-2023
- 发布
- 2023年
- 发布单位
- KR-KS
- 当前最新
- KS D ISO 15632-2023
KS D ISO 15632-2023相似标准
DIN ISO 15632:2022 微束分析 用于扫描电子显微镜 (SEM) 或电子探针微分析仪 (EPMA) 的能量色散 X 射线谱仪 (EDS) 的规范和检查的选定仪器性能参数
19/30394914 DC BS ISO 15632 微束分析 用于电子探针显微镜或电子探针微量分析仪(EPMA)的能量色散 X 射线光谱仪的规格和检查的选定仪器性能参数
GB/T 21636-2008 微束分析.电子探针显微分析(EPMA)术语
BS ISO 15632:2012 微束分析. 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数
BS ISO 15632:2021 微束分析 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数
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