本法适用于晶态样品的成分与分子立体结构定量分析、手性分析、晶型分 析、结晶水含量分析、结晶溶剂种类与含量分析等。仪器校准:仪器应定期使用仪器生产厂家自带的标准样品进行仪器校正。第二法 粉末 X 射线衍射法粉末 X 射线衍射法可用于样品定性或定量的物相分析。...
172—2000 《硅砖定量相分析 X射线衍射法》SH/T 0340—92 《NaY分子筛结晶度测定法》SH/T 0625—95(2004确认) 《硅铝催化剂中γ-Al2O3含量测定法(X射线衍射法)》SY/T 5983—94(2002确认) 《伊利石蒙皂石间层矿物X射线衍射鉴定方法》SY/T 5163—95 《沉积岩粘土矿物相对含量X射线衍射分析方法》SY/T 6210—96 《沉积岩中粘土矿物总量和常见非粘土矿物...
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