T/SPSTS 030-2023由中国团体标准 CN-TUANTI 发布于 2023-11-25,并于 2023-11-25 实施。
T/SPSTS 030-2023在国际标准分类中归属于: 17.040.01 长度和角度测量综合。
T/SPSTS 030-2023 石墨烯材料 片径尺寸测量 扫描电子显微镜法的最新版本是哪一版?
最新版本是 T/SPSTS 030-2023 。
本文件规定了利用扫描电子显微镜法测量石墨烯材料片径尺寸的术语和定义、原理、仪器设备、试剂和材料、结果分析和测试报告内容。 本文件适用于石墨烯材料片径尺寸的测量。
2.光谱法1)拉曼光谱——鉴定石墨烯片并获得层数信息2)红外光谱——评估官能团的存在3)紫外-可见光谱——帮助评估氧化石墨烯和还原石墨烯的区别4)X射线衍射(X射线粉末衍射)——用于分析结晶相5)光电子能谱(X射线光电子能谱)——分析表面化学构成和键合。6)核磁共振——获取结构信息,如sp 2和sp 3碳信息。7)动态光散射(动态光散射和光子关联光谱学)——用于尺寸表征或测量流体尺寸和亚微米颗粒。...
1.显微镜法 1)用扫描电子显微镜(SEM)扫描隧道显微镜(STM)透射电子显微镜(TEM)来表征生长域和表面形态。 2)用原子力显微镜(AFM)来表征表面形态、厚度、层的均匀性、畴生长。 ...
将氧化石墨烯沉积在云母片上,利用蔗糖溶液还原后进行AFM表征,如图6所示,图中的高度剖面图(ΔZ)对应着图中两点(Z1、Z2)的高度差即石墨烯的厚度,同时若将直线上测量点选择在石墨烯片层的两端,还可以粗略测量石墨烯片层的横向尺寸(distance)。图6 石墨烯的AFM图像和高度剖面图[5]不同还原方法得到的GO、rGO的AFM区别Si 等[6]进行了硼氢化钠为还原剂制备RGO 的研究。...
ONYX采用一体化的反射式太赫兹时域光谱技术(THz-TDS)弥补了传统接触测量方法(如四探针法 -Four-probe Method,范德堡法-Van Der Pauw和电阻层析成像法-Electrical Resistance Tomography)及显微方法(原子力显微镜-AFM, 共聚焦拉曼-Raman,扫描电子显微镜-SEM以及透射电子显微镜-TEM)之间的不足和空白。...
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