DD IEC/TS 62215-2:2007
集成电路 脉冲抗扰度的测量-同步瞬态注入法
Integrated circuits. Measurement of impulse immunity - Synchronous transient injection method
- 标准号
- DD IEC/TS 62215-2:2007
- 发布
- 2007年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- DD IEC/TS 62215-2:2007
- 适用范围
- DD IEC/TS 62215-2 - 集成电路的抗扰度是什么？集成电路在全球范围内广泛应用于汽车、手表、微波炉、计算机、电视、交通灯等大多数电子设备中。DD IEC/TS 62215-2 是一项技术规范，其中包含评估抗扰度的测试方法的一般信息和定义集成电路抵抗快速传导同步瞬态干扰的能力。 DD IEC/TS 62215-2还包含对测量条件、测试设备和测试设置以及测试程序和测试报告内容要求的描述。 DD IEC/TS 62215-2 的目标是描述获得集成电路抗扰度定量测量的一般条件，建立统一的测试环境。 DD IEC/TS 62215-2 描述了预计会影响测试结果的关键参数。与本规范的偏差应在单独的测试报告中明确注明。 DD IEC/TS 62215-2 - 集成电路的抗扰度适用于谁？关于集成电路抗扰度的 BS EN DD IEC/TS 62215-2 适用于： 电子设备和元件制造商
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