(7)光学显微镜 当样液中含有水或其它二相液体时,不要利用颗粒计数器来分析样液,这时,需利用光学显 微镜,根据标准ISO4407来测定样液。 (8)真空抽滤装置 该装置用于过滤各种清洗溶剂。过滤一般通过0.45μm的滤膜,该滤膜应与所过滤的各种溶 剂相容。 ...
5、直接采样法(1)真空罐(瓶)采样法①真空罐(瓶)清洗后,每20只应至少取1只注入高纯氮气分析,确定是否清洗干净。每个采集过高浓度样品的真空罐(瓶)清洗后,在下一次使用前均应进行本底污染分析。②玻璃真空瓶易碎,不锈钢真空罐的内壁进行过惰性处理,强烈碰撞会导致内壁变形或涂层脱落,致使样品保存效率下降,因此在运输、保存、使用过程中需小心谨慎,做好保护。...
(7)光学显微镜 当样液中含有水或其它二相液体时,不要利用颗粒计数器来分析样液,这时,需利用光学显 微镜,根据标准ISO4407来测样液。 (8)真空抽滤装置 该装置用于过滤各种清洗溶剂。过滤一般通过0.45μm的滤膜,该滤膜应与所过滤的各种溶 剂相容。...
一、在X荧光光谱仪分析中操作方面带来误差的因素: 1、在X荧光光谱仪分析制样过程中,粉磨时未设定好粉磨时间和压力,达不到要求的粉磨粒度或相应的料度分布。实验表明当粉磨时间短于试验设定时间,测定结果就会产生波动。同时,粉磨时未按规定加适量助磨剂或所加助磨剂中含有所要分析的元素,都会给测定结果带来较大影响。磨头和磨盘里留有前期样品或被其它物质污染),结果也会产生误差。 ...
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