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第7部分:多功能仪表的特殊要求修订2020-08-31安装式数字显示电测量仪表 第2部分:电流表和电压表的特殊要求修订2020-08-31电测量设备(交流) 特殊要求 第24部分:静止式基波分量无功电能表(0.5S级、1S级、1级、2级和3级)修订2020-08-31安装式数字显示电测量仪表 第3部分:功率表和无功功率表的特殊要求修订2020-08-31半导体晶片表面金属沾污的测定 全反射X射线荧光光谱法修订...
近日,日本理学宣布推出新一代理学NANOHUNTER II台式全反射X射线荧光(TXRF)光谱仪,液体或固体表面高灵敏度痕量元素分析达到ppb水平。全反射X射线荧光光谱通过一种途径使X射线入射光束刚好擦过样品,来实现低背景噪音、高灵敏度的超微量元素测量。...
GB/T 19500—2004《X—射线光电子能谱分析方法通则》;7. GB/T 25184—2010《X射线光电子能谱仪检定方法》;8. GB/T 25188—2010《硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法》。序号标准项目名称涉及的标准主要完成单位主要完成人1ISO 19740:2018《光学和光子学 光学材料和零部件 红外光学材料均匀性测试方法》等3项标准1....
向上滑动阅览1、玻璃原材料主次成分及杂质元素含量检测X射线光谱法测定硅石中的杂质元素X射线荧光光谱法测定石灰石中主次成分的含量X射线荧光光谱法测定镁质耐火材料X射线荧光光谱法分析铝质耐火材料X射线荧光光谱法分析硅质耐火材料EDX-8000真空条件分析高铝耐火材料中各元素含量ICP-AES法测定石英砂岩中的常微量元素含量ICPE-9820测定玻璃、釉料及其原料中氧化物的含量ICP-AES法测定灰岩矿石中的氧化钙及其它常微量元素含量偏硼酸锂碱熔...
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