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半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性测试前非密封表面安装设备预处理(IEC 60749-30-2005+A1-2011).德文版 EN 60749-30-2005+A1-2011DIN EN 61747-5-3-2010 液晶显示装置.第5-3部分:环境、耐久性和机械试验方法.玻璃强度和可靠性(IEC 61747-5-3-2009,修改件).德文版本EN 61747-5-3-2010DIN...
:2016 7.12.9已增加相同的要求);7.14 Note Z1删除;22.12 Note Z1删除;24.Z1 S2、S3电容不需再额外按照30.2.2 和30.2.3.1 测试;25.7 删除EN增加部分(因IEC A2:2016已增加原EN 增加的内容)。...
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