GB/T 42907-2023
硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试非接触涡流感应法

GBT42907-2023, GB42907-2023

硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试非接触涡流感应法 是非强制性国家标准，您可以免费下载预览页

哪些标准引用了GB/T 42907-2023

找不到引用GB/T 42907-2023 的标准

标准号: GB/T 42907-2023
别名: GBT42907-2023
GB42907-2023
发布: 2023年
发布单位: 国家质检总局
当前最新: GB/T 42907-2023

GB/T 42907-2023相似标准

T/CPIA 0037-2022 光伏晶体硅片规范 DB65/T 3485-2013 太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法 T/ZZB 2675-2022 TVS用硅单晶研磨片 GB/T 14264-2009 半导体材料术语 GB/T 29054-2012 太阳能级铸造多晶硅块

推荐

半导体专业术语含义

在生产光电单元时，乙硅烷常用于沉积多晶硅薄膜。66. drive-in：推阱，指运用高温过程使杂质在硅片中分布扩散。67. dry etch：干刻，指采用反应气体或电离气体除去硅片某一层次中未受保护区域的混合了物理腐蚀及化学腐蚀的工艺过程。68. effective layer thickness：有效层厚，指在外延片制造中，载流子密度在规定范围内的硅锭前端的深度。69....

尺寸和表面缺陷极限导则第14部分:EFD型磁心修订2022/8/811320204895-T-469硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试非接触涡流感应法制订2022/8/711420210945-T-469国际贸易单证样式第3部分：应用指南制订2022/8/711520213446-T-607封闭式干洗机定义和机器特性的检验制订2022/8/711620213447-T-607干洗机洗涤操作...

今天起，一大批国家标准正式实施！

/11/133GB/T 25845-2018工业用γ射线料位计GB/T 25845-20102019/11/134GB/T 26068-2018硅片和硅锭载流子复合寿命的测试非接触微波反射光电导衰减法GB/T 26068-20102019/11/135GB/T 29514-2018钢渣处理工艺技术规范GB/T 29514-20132019/11/136GB/T 30197-2018工程机械轮胎作业能力测试方法...

GB/T 42907-2023硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法