DB44/T 1216-2013
利用扫描电子显微术和X射线能谱法表征石墨烯的特性

Characterization of graphene using scanning electron microscopy and X-ray spectroscopy


DB44/T 1216-2013 中,可能用到以下仪器设备

 

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rapifleX™ MALDI-TOF/TOF组织成像质谱

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江苏天瑞仪器股份有限公司

 

EDX3600B X荧光光谱仪

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江苏天瑞仪器股份有限公司

 

X荧光光谱仪EDX660

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江苏天瑞仪器股份有限公司

 

HD1000型X荧光光谱仪

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江苏天瑞仪器股份有限公司

 

NITON XL3t-700手持式RoHS分析仪

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Leica S8 APO

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

 Leica DVM5000 HD显微镜

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

高性能X射线光电子能谱仪

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牛津仪器(上海)有限公司

 

手持式XRF光谱仪- 有害元素筛选

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牛津仪器(上海)有限公司

 

日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

FEI Quanta x50 FEG场发射环境扫描电镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子6700F高分辨扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

JEM-2100F 场发射透射电子显微镜

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FemtoJet®显微注射仪

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IXRF微区分析产品

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

XSG双目/三目生物显微镜

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天美仪拓实验室设备(上海)有限公司

 

帕纳科Zetium X射线荧光光谱仪(XRF)

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英国马尔文仪器有限公司

 

蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

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JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

日本电子JSM-7200F扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

科研手持XRF光谱仪 TRACER 5g/手持光谱仪

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成像光谱仪

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大气压扫描电镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

聚焦离子束系统

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ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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Quanta SEM

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冷场发射球差校正透射电镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

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DB44/T 1216-2013

标准号
DB44/T 1216-2013
发布
2013年
发布单位
广东省标准
当前最新
DB44/T 1216-2013
 
 
本标准适用于单层或多层石墨烯

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