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我国原有的GB/T 19502-2004《表面化学分析 辉光放电发射光谱方法通则》等同采用ISO国际标准:ISO 14707:2000。2021年3月12日,新的GD-OES国际标准ISO 14707:2021正式公布。...
分析测试百科网讯 HORIBA科学仪器事业部最近为辉光放电发射光谱(GD-OES)的深度分析发布了DiP创新系统。 DiP(差分干涉分析)为无需校准的深度剖面分析提供了实时的镀层厚度、断面深度和溅射速度。 GD-OES是公认的快速、多元素的导电和非导电材料深度分析技术。GD-OES依赖于被调查样品代表区域的等离子体溅射,在高分辨率光谱仪上同时测量所有感兴趣的元素。...
光谱仪器制造技术也在不断提高,特别是中阶梯光栅交叉色散和固体检测元件等新技术在ICP直读仪器上得到推广应用,推出所谓全谱型直读仪器,成为今后发射光语同时型仪器的一个发展:也为照小型,实用化发展提供了技术基础。辉光放电(GD)用作原子发射光谱的激发光源,在直读光谱仪器的推动下得到迅速的发展,GD-OES的商品仪器也得到发展。...
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