IEC 60749-13:2018
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第13部分:盐气氛
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
- 标准号
- IEC 60749-13:2018
- 发布
- 2018年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60749-13:2018
- IEC 60749 的这一部分描述了确定半导体器件耐腐蚀性的盐气氛测试。这是一项加速测试，模拟恶劣的海岸大气对所有暴露表面的影响。它仅适用于指定用于海洋环境的设备。盐气氛测试被认为是破坏性的。
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