相较于传统的光学显微镜和透射电镜,扫描电镜具有以下特点:直接多角度观察样品的表面结构;不需要将样品切成薄片;景深大、图像立体感强;放大倍数从几十倍到几十万倍连续可调;电子束能量较低,对样品的损伤小;在观察形貌的同时可以对微区的成分进行定量和定性分析。 ...
电子显微镜按结构和用途可分为透射式电子显微镜、扫描式电子显微镜、反射式电子显微镜和发射式电子显微镜等。透射式电子显微镜常用于观察那些用普通显微镜所不能分辨的细微物质结构;扫描式电子显微镜主要用于观察固体表面的形貌,也能与 X射线衍射仪或电子能谱仪相结合,构成电子微探针,用于物质成分分析;发射式电子显微镜用于自发射电子表面的研究。 ...
样品制备试样制备技术在电子显微术中占有重要的地位,它直接关系到电子显微图像的观察效果和对图像的正确解释。如果制备不出适合电镜特定观察条件的试样,即使仪器性能再好也不会得到好的观察效果。 SEM 样品制备的基本流程为前处理、干燥、装台和表面的导电处理。 SEM 样品制备的基本要求: (1) 使样品的表面形貌结构保持活体时的近似形态,所观察的表面要求处理干净。 ...
镶嵌 对太小的试样、形状复杂的试样、需要保护边缘的试样、多孔的试样、有裂纹的试样,或需要有一定标准尺寸或形状的试样可用镶嵌的方法将试样进行镶嵌,以便于用手或在试样座里进行研磨和抛光。 选择方法有二: ■热镶嵌:将需镶嵌的试样放入一定尺寸和形状的模具,用树脂在加热状态,将试样镶嵌在树脂里,这种试验方法要用一台热镶样机来进行,而且每次只能镶1~2个试样,耗时约8min左右。...
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