ISO 3543:2000/Cor 1:2003
金属和非金属涂层.厚度测量.射线反向散射法技术勘误表1

Metallic and non-metallic coatings — Measurement of thickness — Beta backscatter method — Technical Corrigendum 1

金属和非金属涂层.厚度测量.射线反向散射法技术勘误表1 是非强制性国家标准，您可以免费下载预览页

高级搜索

ISO 3543:2000/Cor 1:2003 发布历史

ISO 3543:2000/Cor 1:2003由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2003-12-03。

。

ISO 3543:2000/Cor 1:2003的历代版本如下：

2003年 ISO 3543:2000/Cor 1:2003 金属和非金属涂层.厚度测量.射线反向散射法技术勘误表1
2000年 ISO 3543:2000 金属和非金属覆盖层厚度测量 β射线背散射法
1981年 ISO 3543:1981 金属和非金属涂层.厚度测量.射线反向散射法

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试：免费下载 ISO 3543:2000/Cor 1:2003 前三页，或者稍后再访问。

注意：点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号: ISO 3543:2000/Cor 1:2003
发布: 2003年
发布单位: 国际标准化组织
当前最新: ISO 3543:2000/Cor 1:2003

ISO 3543:2000/Cor 1:2003相似标准

KS D ISO 3543:2002 金属和非金属涂层.厚度测量.射线反向散射法 ISO 3543:1981 金属和非金属涂层.厚度测量.射线反向散射法 NF A91-115:1995 金属和非金属涂层.厚度测量.射线反向散射法 EN ISO 3543:1994 金属和非金属涂层.厚度测量.β射线反向散射法 DIN EN ISO 3543:2001 金属和非金属涂层.镀层厚度测量.β射线反向散射法

推荐

常规涂层测厚仪的原理

覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。　　覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。　　...

覆层厚度的测量方法主要有:楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。...

涂层测厚仪的选型方法

覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。　　X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。...

涂层测厚仪的分类及测量原理

覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。...

ISO 3543:2000/Cor 1:2003金属和非金属涂层.厚度测量.射线反向散射法 技术勘误表1