YD/T 3037.2-2023
通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分:UICC

Test method for characteristics of mass storage interface between Universal Integrated Circuit Card (UICC) and terminals Part 2: UICC

YDT3037.2-2023, YD3037.2-2023


标准号
YD/T 3037.2-2023
别名
YDT3037.2-2023, YD3037.2-2023
发布
2023年
发布单位
行业标准-邮电通信
当前最新
YD/T 3037.2-2023
 
 
适用范围
本文件适用于支持大容量存储接口的UICC卡的研发和生产。

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